Development of a Simplified Test Method Simulating Strand Deformation in Nb3Sn Conductors for Fusion Applications
海老沢 宏一, 石井 聡史, マン カケイ, 谷口 諒, 中尾 健吾, 杉本 昌弘 (古河電工), 宇藤 裕康 (量研機構), 伴野 信哉 (NIMS)
Abstract:核融合用Nb?Sn導体では、撚線工程で生じる素線変形が超電導特性に影響する。本研究では、Nb?Sn線2本とCu線1本のトリプレックスを圧縮し、素線変形度とIcの関係を評価した。ブロンズ法およびCu-Nb強化型線材では、変形度増大に伴いIcとn値が低下したが、Cu-Nb強化により低下が抑制された。内部すず法線材は小さな力で大きく変形し、Ic測定でクエンチが多発した。開発した簡易圧縮試験法は、実際の撚線に近い変形分布を再現でき、原型炉用導体の予備評価に有効である。