Microstructural analysis of multifilamentary YBCO coated conductor with Nb stripes
藤本 大貴, 和田 大生 (九大), 松本 明善, 大井 修一, 立木 実 (NIMS), 曽我部 友輔 (京大), 井上 昌睦 (福岡工大), 池之上 卓己 (京大), 寺西 亮 (九大)
Abstract:我々はYBCO線材の交流損失低減を目的に基板を修飾して成膜することによるYBCO層のマルチフィラメント化に取り組んでいる。これまでNbをストライプ状に堆積したSrTiO3(STO)基板上にYBCOを成膜したところ、STO上のYBCO層とストライプ上に生成する異相の配列によるマルチフィラメント化が可能であることを報告している。本研究では実用基板への展開を狙い、Nbを堆積したIBAD-CeO2基板上にMOD-YBCOを成膜し微構造解析を行った。表面観察よりストライプ上にてSTOではクラックが発生したがIBAD-CeO2ではクラックが観察されなかった。断面観察よりSTO上のストライプは成膜後に体積膨張していたことからクラックは膜にかかる引張応力に起因すると考えられ、クラックの発生メカニズムについて調査している。