Effect of RE Composition Control on Microstructure and Low-Temperature High-Field Jc in REBCO+BMO Thin Films
奥村 慎, 堀出 朋哉 (名大), 一瀬 中 (電中研), 吉田 隆 (名大)
Abstract:REBCO線材の低温・高磁場中で高い臨界電流密度（Jc）を有する線材が必要とされている。本研究ではＰＬＤ法を用いてIBAD基板上REBCO+BＭO薄膜のRE材料およびRE組成を変更し、微細構造・Jc特性の変化を検討した。YBCO+BHO薄膜において本来の化学量論比(Y1.0)とは異なる、Y組成の少ないPLDターゲットを使用した際にBHOナノロッドの傾斜の増大、細いナノロッド径、高密度化が確認された。その結果、YBCOにおけるY組成を0.9とした試料では細いナノロッドが高密度に導入されたことによって20 K 9 TでFp ? 800 GN/m3であった。REBCO線材への展開へ向け、このRE組成が微細構造へ与える影響について、RE材料や成膜条件を変化させて検討した結果についても併せて報告する。