RST法を用いた極細MgB2大容量導体の電流分布解析:偏流と素線間接触抵抗率が導体Icに及ぼす影響の解析

Dynamic Current Distribution Analysis in an Ultra-Fine MgB2 Large Capacity Conductor: Effects of Current Nonuniformity and Inter-Strand Resistivity on the Overall Critical Current.


谷貝 剛 (上智大), 菊池 章弘 (NIMS), 槙田 康博 (KEK), 平野 直樹 (NIFS), 濱島 高太郎 (東北大), 金 錫範 (岡山大), 大崎 博之 (NIMS)


Abstract:高温超電導体のポテンシャルを最大限活かすためには、加工時に加わる歪み耐性を上げる事が重要である。そのため、髪の毛よりも細く100μm未満に細線化し、しなやかで曲げに強い極細MgB2線が開発された。それを多数本撚り集め、可撓性に富んだ極細MgB2導体も開発されたが、母材の種類や磁場条件によっては導体の設計Icに届かない事例が確認されている。本報告では、大規模導体電流分布の過渡解析を世界で初めて可能にしたRST法を基に、素線間接触抵抗率や可逆な磁束流抵抗発生を考慮した導体の動的挙動に関する解析について報告する。