FF-MOD法Gd123薄膜への複数種RE214人工ピンナノプレート導入による磁場中臨界電流密度の向上

Enhancement of In-Field Critical Current Density in FF-MOD Gd123 Films by Co-Doping Multiple RE214 Nao-plates Pins


千葉 亮輔, 垂水 聖也 (東京都立大), 石井 涼太 (成蹊大), 尾崎 壽紀 (関西学院大), 三浦 大介 (東京都立大)


Abstract:FF-MOD法Gd123薄膜の磁場中Jc向上を目的に,母材の格子定数と近いRE214(RE=Gd, Sm, Y)人工ピンを複数種共添加した。Gd214/Sm214共添加膜では,Gd123母材の高いc軸結晶配向性を維持し,ピン導人量の増加に伴うRE214のXRDピークのFWHM変化からAPC粗大化の抑制が示唆された。さらにGd214,Sm214,Y214を各1 vol%共添加した薄膜は4.2 K,3 TでJc=3.085 MA/cm²を達成し,無添加膜の約2.2倍,Gd214単独添加膜の約1.7倍となった。Jcの磁場角度依存性,TEM微細組織および母材へのRE置換の可能性も評価し,RE214共添加による磁束ピンニング向上機構を検討する。