Microstructural Investigation of Thick Multfilamentary YBa2Cu3Oy Films Fabricated by Substrate-Encoded Filamentation
平山 誠也, 藤本 大貴, 和田 大生 (九大), 松本 明善, 立木 実, 大井 修一 (NIMS), 井上 昌睦 (福岡工大), 池之上 卓己, 曽我部 友輔, 寺西 亮 (九大)
Abstract:YBCO超伝導線材の交流損失を低減するため、NbやZrなどの金属ストライプをパターニングした基板を用いるSubstrate-Encoded Filamentation(SEF)法によって、YBCO層のマルチフィラメント化を行っている。これまで本手法を用いた研究は膜厚約0.6 µmの試料で行っており、実用線材と比較して薄い膜での基礎研究にとどまっている。そこで本研究では、Nbストライプを有する単結晶基板上に約1.0 µmのYBCO層を成膜し、実用線材と同程度の厚膜試料におけるSEF法の有効性を調査した。電子顕微鏡を用いた表面及び断面観察の結果、YBCO層を分割するギャップの形成が確認された。これにより、厚膜試料においてもSEF法によるマルチフィラメント化構造の形成が可能であることが明らかとなった。