X-ray Residual Stress Measurement of Cu sheath of Nb3Sn wires
谷口 礼真 (大同大), 菊池 章弘 (NIMS), 長村 光造 (京都材料科学研究センター), 町屋 修太朗 (大同大)
Abstract:Nb3Sn線材はCTEのミスマッチや熱処理から安定化銅シースに引っ張りの残留応力が導入されるが、応力が比較的小さく、実測された例はなかった。cosα法を用いて、銅シース部の残留応力測定を行ったので報告したい。
2026年度秋季低温工学・超電導学会