Individual Measurment of Interfacial Resistance at Each Interface inside REBCO Tapes and Evaluation of Its Validity
佐藤 光一, 伊藤 悟, 土屋 雄司, 高橋 弘紀 (東北大)
Abstract:REBCO線材内部にはREBCO/Ag界面とAg/Cu界面の2つの界面に層間抵抗が存在し、線材ごとに大きくばらつく。これらは接合抵抗の主要な構成要素であるが、多くの研究ではAg/Cu界面の抵抗をゼロと仮定している。しかしながら77 K、自己磁場下で両界面の層間抵抗を個別に評価した我々の先行研究では、Ag/Cu界面の層間抵抗がREBCO/Ag界面のそれよりも大きいという、従来の仮定と異なる結果が得られた。本研究では、他の温度領域での傾向を調査し、併せて接合抵抗との比較により層間抵抗の評価結果の妥当性を検証する。