Development of a joint resistance evaluation system (2) - test measurement results -
小林 賢介, 内田 公, 北口 仁 （NIMS）
Abstract:超伝導線材の接続技術は、機器応用の拡大へ向け非常に重要である。接続技術開発のためには、nΩ以下の接続抵抗の評価が不可欠である。一般には、4端子法等での測定が難しいため、接続部を含む閉回路を構成し、回路を流れる電流の減衰を測定することで抵抗値を推定する。我々は、冷却と電流減衰測定を効率よく行うための接続抵抗評価装置の開発を進めている。本発表では、各種のテスト試料を用いた接続抵抗評価試験結果を報告する。
本成果の一部は、国立研究開発法人新エネルギー・産業技術総合開発機構（NEDO）事業の委託業務[16100555-0].によって得られたものである。