エポキシ含浸によるYBCOダブルパンケーキコイルの特性劣化

Degradation of the performance of a YBCO-coated conductor double pancake coil due to epoxy impregnation


竹松 卓也, HU Ruixin, 高尾 智明 (上智大); 柳澤 吉紀, 奥山 絵里加, 中込 秀樹 (千葉大); 木吉 司 (NIMS ); 高橋 雅人, 前田 秀明 (理研)


Abstract: 非含浸とパラフィン含浸又はエポキシ含浸のYBCOダブルパンケーキコイルを製作し77Kで通電試験を行った。非含浸の場合、短尺特性(45A)で常伝導電圧が生じたのに対し、エポキシ含浸コイルでは8Aで常伝導が生じ、顕著なコイル特性劣化が確認された。コイルを巻き戻したところ、特性劣化ターン(第6層)で線材内部の剥離が確認でき、剥離はバッファ層-超伝導層間で生じていることがわかった。剥離はエポキシ硬化・コイル冷却時にレイヤー間に生じる径方向応力、またはコイル上下端の線材に働く劈開力によって起こると推察される。